Zum Hauptinhalt springen

Keithley 2600 Sourcemeter 30 W, ±200 mV → ±200 V / ±100 nA → ±10 A, 500 nΩ → 100 TΩ,

Marke: KEITHLEY

Hersteller Artikel-Nr.: 2611B

9.712,24 €

11.557,57 € inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Produktdetails

Artikeltyp
Sourcemeter
Lieferanten Artikel-Nr.
907-3186
Gewicht
1 g
Zustand
Neu

Technische Daten

Anzahl der Kanäle
1
Ausgangsleistung
30 W
Kalibriert
ISOCAL
Quellenspannungsbereich
±200 mV → ±200 V
Quellenstrombereich
±100 nA → ±10 A
Serie
2600
Widerstand Messbereich
500 nΩ → 100 TΩ

Produktbeschreibung

Serie = 2600
Anzahl der Kanäle = 1
Quellenspannungsbereich = ±200 mV → ±200 V
Quellenstrombereich = ±100 nA → ±10 A
Ausgangsleistung = 30 W
Widerstand Messbereich = 500 nΩ → 100 TΩ
Kalibriert = ISOCAL

Keithley Quellmessgerät Serie 2600B. Die Strom-/Spannungsquellen- und Messgeräte der Serie 2600B von Keithley basieren auf der SMU-Technologie der 3. Generation. Jedes eng integrierte Gerät bietet die Fähigkeiten eines Präzisionsnetzteils, einer echten Stromquelle, eines 6-stelligen DMM, eines Arbiträrsignalgenerators, eines Impulsgenerators und einer elektronischen Last. Die Modelle der Serie 2600B Source Meter verfügen über eine integrierte Java-basierte Testsoftware, die eine echte Plug-and-Play-I/V-Charakterisierung über jeden Browser, auf jedem Computer und von überall auf der Welt ermöglicht. Die Serie 2600B ist eine Familie von leistungsfähigen Messgeräten mit einzigartigen Fähigkeiten zum Testen von Komponenten und Geräten für zahlreiche Anwendungen einschließlich Forschung und Entwicklung, Produktionstests, Ausbildung und QA/FA. Eigenschaften und Vorteile:. 4-Quadranten-Spannungs-/Stromquelle und Messung mit 6,5 Stellen Auflösung (2-zeiliges VFD-Display) Wählen Sie ein Modell aus dieser Serie aufgrund seines außerordentlichen Dynamikbereichs: 10 A Impuls bis 0,1 fA und 200 V bis 100 nV Integrierte, Java-basierte Prüfsoftware Test Script Processing-Technologie (TSP) zur Einbettung vollständige Prüfprogramme für erstklassigen Durchsatz TSP-Link-Erweiterungstechnologie für parallele Mehrkanalprüfungen ohne Mainframe USB 2.0, LXI-C, GPIB, RS-232 und digitale E/A-Schnittstellen Software-Treiber und Entwicklungs-/Debugging-Tools im Lieferumfang enthalten Modellwahl umfasst auch Messgeräte mit niedrigeren Spezifikationen (2604B, 2614B, 2634B). Typische Anwendungen:. Halbleiterstrukturen – Wafer/Dünne Folien Nanomaterialien und Geräte – Graphen-/Kohlenstoff-Nanoröhrchen/Nanodrähte/Energiesparen